近日，美国国家仪器公司（以下简称NI）在上海举办了第十三届“PXI 技术和应用论坛”（PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC）。本次PXI TAC的主题为“更智能的系统-更智能的系统测试”，吸引了600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表，共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货，探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。
NI是PXI标准协议最早的发起者和倡导者。通过这样一个可提供用户自定义开放的平台，在市场上处于一个驱动性的地位。自提出以软件为核心的模块化系统概念以来，NI一直致力于提供符合工程师逻辑思维的平台工具，提供测试管理、开发、系统服务软件和丰富的I/O驱动库，帮助实现信号的采集、分析和显示。在大型项目设计中，可以在统一的环境中集成不同的开发平台，通过接口连接Simulink、Matlab利用原有模型，充分利用开发好的成果，完成工程师的通天塔，令工程师把自己的精力集中在研发和创新中，提供更加高效的方式。
此次会上，NI展望了工业自动化测试的发展趋势，包括多核技术下的并行测试，发布了7位半数字万用表(DMM)、802.11ax无线测试解决方案、用于毫米波(mmWave)的软件无线电(SDR)和模块化源测量单元(SMU)等多款业界首创的PXI新产品，再度引领PXI技术发展的新潮流，致力于帮助用户打造更加智能的系统测试解决方案。同时，15家国内外知名PXI供应商和系统集成商亮相本次PXI TAC，展示了他们基于PXI技术开发的各项产品和技术应用。
NI始终致力于PXI技术的不断进步，并在这一领域不断投入和持续创新。随着以物联网为代表的智能系统的兴起，智能设备呈爆炸式增长态势，对测试和测量任务提出更加严峻的挑战。有记者提到NI是如何为提升硬件设备的测试效率以及降低测试成本？ NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale表示：作为PXI平台的发明者和市场领导者， NI多年来坚持将PXI TAC打造成开放、自由的技术交流平台。我们期待与各界同仁携手，促成PXI平台的持续创新，吻合市场需求，应对测试测量任务越来越严峻的挑战。”
