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安立荣膺“OFweek Electronic Awards 2013技术创新奖”

发布时间:2013-04-18 来源:中国自动化网 类型:企业资讯 人浏览
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安立

导  读:

安立荣膺“OFweek Electronic Awards 2013技术创新奖”

  OFweek电子工程网2013年4月11日讯——由中国高科技行业门户-OFweek光电新闻网、OFweek电子工程网主办的 “OFweek 2013智能终端与物联技术”研讨会及“OFweek Electronic Awards 2013”颁奖活动于2013年4月11日落下帷幕。安立通讯科技(上海)有限公司(Anritsu (China) CO., LTD)的MD8430A LTE信令分析仪在本次评选中获得“OFweek Electronic Awards 2013技术创新奖”。会议详情: http://www.ofweek.com/topic/2013/ee2013awards/


  此次评选活动设立了“技术创新奖”和“市场开拓奖”两个奖项,“技术创新奖”重点盘点电子行业产品技术或应用方案,评选范围涵盖最具创新的技术元件,模块或者成熟方案;市场开拓奖针对参评企业在新市场的投入力度及对市场的开拓能力与影响进行评估,遴选出最具新市场开拓与新服务拓展等能力的企业。


  “OFweek Electronic Awards 2013技术创新奖” 评选基于电子科技企业在技术创新、产品领先、市场前瞻等方面做出的努力,通过特邀、业界推荐和企业报名方式取得企业产品、技术模块或开发方案参与评选,并组织资深专家参与在线评审,最后筛选出10家企业评获“技术创新奖”。

 


  安立的MD8430A LTE信令分析仪在本次评选中获得“OFweek Electronic Awards 2013技术创新奖”。


获奖理由:MD8430A支持FDD和TDD两种模式,支持3GPP Release8和Release9LTE标准。MD8430A可以模拟6个LTE小区,其中两个小区用作LTE激活小区,其余四个小区用作LTE邻小区。MD8430A可以支持2×2 MIMO和4×2 MIMO,使用一台MD8430A即可完成2×2 MIMO的切换测试。从终端类型上可以支持UE category1-4,即支持下行150Mbps和上行50Mbps的吞吐量测试。针对LTE基带芯片开发,MD8430A还提供了非常详细的接口,可以使芯片厂家对LTE Layer1/Layer2/Layer3每个协议层实施系统和灵活的测试。

MD8430A LTE信令分析仪


   安立代表(下图左三):“非常高兴安利公司获得了这次OFweekElectronicAwards2013技术创新奖,也非常感谢OFWEEK举办了此次活动。安立公司以后会继续加大研发力度,推出满足客户要求的产品,以满足日益增强的市场需求。”


  安立有限公司的主营业务在信息通信领域,致力于为全球客户提供面向“移动及因特网”相关的信息系统的研发、生产和运行维护的测试解决方案及服务。此外,安立还将技术应用领域扩展至IP网络设备及食品、医疗产品的生产检测设备、印刷电路板的精密检测等。




本文地址:http://www.ca800.com/news/d_1nrusj6oaqtae.html

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