2016年3月15日-作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来帮助他们应对全球最严峻工程挑战的供应商，NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI)近日发布了《2016自动化测试趋势展望》。 这份年度测试和测量报告综合概括了日益互联化的自动化测试环境的主要趋势，主题涵盖从毫米波(mmWave)通信到如何有效利用制造测试数据来提高商业绩效。
“NI致力于不断提高自动化测试系统的性能，因此与客户和供应商密切合作，借此深入了解制造与测试部门所面临的主要挑战，”NI自动化测试市场营销总监Luke Schreier表示，“不论您的挑战是测试数百万个物联网设备还是管理已使用20年的测试系统，我们的目标就是激起贵公司的内部对话和讨论，进而帮助您降低测试成本以及保持竞争优势。”
《2016自动化测试趋势展望》探讨了以下几个主题：
计算： 采集生产测试数据
半导体行业率先采用实时数据分析来降低生产测试成本。
软件： 生命周期管理的关键在于软件
报废、操作系统更新换代以及兼容性给生命周期较长的项目带来重重挑战 — 这个长期悬而未决的问题值得我们深入探究。
架构： 测试管理软件的崛起
在新编程语言不断涌现的情况下，采用现成测试执行软件将是有效的解决办法。
I/O： 从表征到生产的平台标准化
RFIC公司在整个产品设计周期中通过IP复用和硬件标准化来降低成本和缩短产品上市时间。
商业战略： 毫米波测试策略
测试经理正在采用模块化解决方案来高效、经济地验证高频组件。
访问www.ni.com/ato，下载完整的报告。