由北京市自然科学基金资助的第二届高可靠性嵌入式系统-可靠性预测与验证国际会议于9月20日-24日（RPAV2010）在首都师范大学北一区国际文化大厦成功举行。本次会议由首都师范大学、加拿大ConcordiaUniversityHVG、美国RidgetopGroupINC和高可靠嵌入式系统技术北京市工程研究中心共同主办，中科院国家天文台、香港理工大学、北京化工大学、北京汉迪龙科技有限公司协办。来自中国、美国、加拿大等国家的大学、研究机构以及相关企事业单位的80多名专家学者出席了此次会议。本次会议也是2010年北京市自然科学基金成立二十年系列国际学术交流活动之一。
研究苛刻环境电子系统对国家战略安全和国民经济发展均具有重要的意义和迫切的技术需求。本次会议围绕高可靠性和苛刻环境的应用领域、芯片和电子系统的设计的可信性、硬件设计的形式化验证方法（包括等价性验证、模型验证、理论验证）、如何科学而准确地预测芯片、电源、电子线路板、电子系统和设备的生命周期、故障可预测性MTTF/MTBF如何实现、技术服务与人才培养等问题进行广泛而深入的学术交流。
会议为高可靠性嵌入式系统领域专家学者搭建了良好的交流平台，促进了中美两国、中加两国在高可靠嵌入式系统领域的研究与技术合作。