美国国家仪器公司(NI)正在筹办第四届自动化测试年度峰会，举办技术会议，聚焦于识别趋势，克服自动化测试领域的新挑战。2007自动化测试峰会将在5月8号在互联网上直播举办，并将在网上根据需求保存90天。在这一个免费的
全天候峰会里，参与者可以观看主题演讲，关注技术会议，参与问答论坛实况以及在参展商区域与供应商互动。
美国国家仪器公司自动化测试产品经理Kevin Bisking表示：“每年，国家仪器公司和技术领导者和ATE供应商一道共同举办自动化测试峰会，它为来自领先的电子制造商的测试工程师和经理们所遇到的挑战展示了最新的应对测试策略和技术。为了使工作量日益增多的工程师们可以更容易地参与峰会，今年NI通过网络举办本次峰会。工程师们将可以方便地学到测试开发中的最优方法。”
来自微软、英特尔、Tektronix、Averna 和 BAE 系统等公司的代表将在峰会期间分享他们的技术专长和最佳方法。NI商业和技术的研究员Mike Santori将发表“开发下一代测试系统”的主题演讲。而德州仪器的自动化架构经理Marvin Landrum将在下午发表“开发一个全球化测试程序的策略”的主题演讲。
技术会议包含下面的议题：
通过移植一个通用测试系统架构减少成本；
利用下一代技术提高系统性能；
开发一个全球化测试程序的策略；
将新的测量法结合到一个测试系统的最佳方法