背景介绍

电子产品在生产制造时，因设计不合理、原材料或工艺措施的原因引起产品的质量问题可概括为两类，第一类是产品的性能参数不达标，第二类则是潜在的缺陷。老化就是让被测件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。而老化测试通常需要对其施加加速环境应力，常用的环境应力中，以温度变化的老化效果最好。本系统即通过控制温度来提供老化环境，模拟使用环境，在线检测元器件的功能是否正常。

产品概述

电子元器件老化测试系统能够实现多种电子元器件的进厂检测。系统使用先进的模块化仪器及硬件，同时采用泛华自主研发的信号路由矩阵、夹具及通用软件测试平台。

系统功能主要包括在室温至180℃环境温度下对电子元器件进行各项功能、电气指标的自动化测试，同时对被测件进行性能评判及筛选。

本系统可测试多种不同种类的元器件，包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管、变压器等，至今已达二百多种，并且方便扩展。

技术亮点

● 在线环境仿真及实时测试

系统一大技术亮点是动态老化，即在室温至180℃环境下，任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔，并在各个温度点下实时测试元器件的性能。

相比于静态老化，动态老化的好处包括：1、将耗时的功能测试移到老化中，可以节约昂贵的高速测试仪器的使用时间。2、达到预期故障率的实际老化时间相对更短，节约成本。3、生成的实时记录更具有分析价值。

系统特性

· 高可靠性与可扩展性

系统实现了自动化测试过程控制，操作简单，除装卸件采用手动完成外，其它测试过程均由系统自动完成。软硬件充分考虑异常处理机制，可长时间连续无故障运行。

系统支持多种信号、多种参数的生成和测量；系统中应用了数据采集卡、数字万用表、波形发生器、数字示波器及安捷伦的LCR 表等多种仪器，并支持更多独立仪器与传统设备，保证硬件的适用性，具有广泛硬件基础，方便今后的维护与扩展。

· 智能路由与模块化夹具

系统集成泛华研发的大规模信号路由矩阵，资源路数可达192（×8）×16，同时兼容10MHz 带宽高频信号及3A 功率信号传输。通道间绝缘大于1GΩ，线路阻抗小于600MΩ，串扰1MHz 小于-60dB。老化板适配夹具耐温可达270℃。

元器件接口可基于被测件任意定制；仪器接口采用模块化标准设计，保证可更换，拆卸方便，并且能够适应众多仪器，保证了系统具有极大的扩展兼容性与适用范围。

· 高效的流程化测试与控制

在泛华Test On Demand 测试序列流程管理软件基础上，方便的实现并行序列的编辑和运行，实现众多电子器件的精确的功能测试，包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管以及变压器等，测试内容涵盖电阻、电容、电感、纹波抑制比、耐压等。

· 灵活的测试结果显示

具有强大的数据存储、分析与报表生成功能，可分类保存不同温度点下，同一块老化板上不同元器件的测试曲线，方便查看与数据回溯。