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电子元器件老化测试系统

发布时间:2014-01-02 16:52   类型:基础知识   人浏览

背景介绍

 

电子产品在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施的原因引起产品的质量问题可概括为两类,第一类是产品的性能参数不达标,第二类则是潜在的缺陷。老化就是让被测件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。而老化测试通常需要对其施加加速环境应力,常用的环境应力中,以温度变化的老化效果最好。本系统即通过控制温度来提供老化环境,模拟使用环境,在线检测元器件的功能是否正常。

 

 

 

 

产品概述

 

电子元器件老化测试系统能够实现多种电子元器件的进厂检测。系统使用先进的模块化仪器及硬件,同时采用泛华自主研发的信号路由矩阵、夹具及通用软件测试平台。

 

系统功能主要包括在室温至180℃环境温度下对电子元器件进行各项功能、电气指标的自动化测试,同时对被测件进行性能评判及筛选。

 

本系统可测试多种不同种类的元器件,包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管、变压器等,至今已达二百多种,并且方便扩展。

 

 

 

 

技术亮点

 

● 在线环境仿真及实时测试

 

系统一大技术亮点是动态老化,即在室温至180℃环境下,任意设置老化温度点、老化时间与循环测试时间间隔,并在各个温度点下实时测试元器件的性能。

 

相比于静态老化,动态老化的好处包括:1、将耗时的功能测试移到老化中,可以节约昂贵的高速测试仪器的使用时间。2、达到预期故障率的实际老化时间相对更短,节约成本。3、生成的实时记录更具有分析价值。

 

 

 

 

系统特性

 

· 高可靠性与可扩展性

 

系统实现了自动化测试过程控制,操作简单,除装卸件采用手动完成外,其它测试过程均由系统自动完成。软硬件充分考虑异常处理机制,可长时间连续无故障运行。

 

系统支持多种信号、多种参数的生成和测量;系统中应用了数据采集卡、数字万用表、波形发生器、数字示波器及安捷伦的LCR 表等多种仪器,并支持更多独立仪器与传统设备,保证硬件的适用性,具有广泛硬件基础,方便今后的维护与扩展。

 

· 智能路由与模块化夹具

 

系统集成泛华研发的大规模信号路由矩阵,资源路数可达192(×8)×16,同时兼容10MHz 带宽高频信号及3A 功率信号传输。通道间绝缘大于1GΩ,线路阻抗小于600MΩ,串扰1MHz 小于-60dB。老化板适配夹具耐温可达270℃。

 

元器件接口可基于被测件任意定制;仪器接口采用模块化标准设计,保证可更换,拆卸方便,并且能够适应众多仪器,保证了系统具有极大的扩展兼容性与适用范围。

 

· 高效的流程化测试与控制

 

在泛华Test On Demand 测试序列流程管理软件基础上,方便的实现并行序列的编辑和运行,实现众多电子器件的精确的功能测试,包括电阻、电容、电感、稳压器、二极管以及变压器等,测试内容涵盖电阻、电容、电感、纹波抑制比、耐压等。

 

· 灵活的测试结果显示

 

具有强大的数据存储、分析与报表生成功能,可分类保存不同温度点下,同一块老化板上不同元器件的测试曲线,方便查看与数据回溯。

 


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