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对基于计算机的测量仪器进行内部和外部校准
NI扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块（SMU）用于半导体的特性描述和生产测试。
NI宣布扩大其日益增长的NI可重新配置的I / O（RIO）平台,发布拥有其最高性能的首款多核NI CompactRIO系统以及最小的NI单卡式RIO设备。
美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）发布了NI PXIe-5665高性能RF矢量信号分析器（VSA）的14 GHz版本。