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NI模块化仪器应用研讨会

发布时间:2006-01-17 10:15     新闻类型:培训资讯      人浏览
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[B]专为以下工程师度身定制:[/B]
  - 专为通讯,消费电子和IC行业的测试而创建的ATE测试平台;
  - 渴望加速产品开发周期并大幅提高效率;
  - 需要更进一步了解NI模块化仪器产品及应用详细内容。
  

[B]通过本场研讨会,您将学习到:[/B]
  - 了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点,尤其是针对通讯,消费电子和IC行业的测试;
  - 学习上述行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点;
  - 通过实际的案例学习模块化仪器的应用‘


[B]本场研讨会中,涉及的产品包括:[/B]
  2输入/2输出 24位动态信号采集与生成设备
  200 MHz 信号发生器
  200 MHz 高速数字化仪
  100 MHz 高速数字IO
  数字万用表和开关模块
  射频测量和发生设备
  最新的 7位半数字万用表 - NI PXI-4071 
  最新的 可变分辨率数字化仪 - NI PXI-5922
  

  在本次研讨会中,NI主讲工程师将现场穿插不同的应用演示,帮助您进一步理解基于PXI的模块化仪器的优势所在。
  

[B]预备知识提示:[/B]
  - 了解基于计算机技术的测量与自动化系统
  - 了解示波器、万用表、信号源等的基本运作
  

  了解更多模块化仪器信息:[URL=http://ni.com/china/mi]http://ni.com/china/mi[/URL]
  

[B]时间和地点:[/B]
  2006/2/21 东莞 14:00-17:00 东莞银城酒店四楼名仕1号厅(东莞市南城区莞太大道48号)
  2006/2/24 深圳 14:00-17:00 深圳荔园酒店6楼大会议厅(深圳红岭中路1018号)
  

  更多信息请访问[URL=http://www.ni.com/china]http://www.ni.com/china[/URL],或与NI上海分公司联系:上海市曲阳路800号商务大厦6楼(200437),电话:(021)65557838,传真:(021)65556244,E-mail:china.info@ni.com。免费咨询电话:800 820 3622
    
    [URL=http://www.gongkong.com/customer/ni/pxkc.asp]更多NI免费培训课程与研讨会信息[/URL]
  [URL=http://customer.gongkong.com/customer/ni/download1.asp]更多NI免费软件下载[/URL]



























本文地址:http://www.ca800.com/news/d_1nrusj6oamvu4.html

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