NLS1X纳米位移计可以用于测量微型表面的轮廓、平整度等复杂的表面，一般由光学头和控制器组成。纳米位移计进行了小型化的封装，非常方便集成到现有的系统中。
应用领域
应用于表面难以测量的物体（技术性及困难表面），是一种非接触式轮廓测量的通用的测量解决方案。理想情况下，纳米位移计适合于敏感的，软的或液体的表面。适用于微机械工程，电气工程，光学行业，塑料和造纸行业，半导体和PCB产业的检测，工具行业等。
纳米位移计主要特点
◆纳米级分辨率；与光强度无关,与被测体反射系数无关；
◆坚固的结构，使用寿命长；
◆易操作且动态测量可以达到很高的测量频率，完美匹配自动化的需求。操作人员不需要经过专业的培训也能得到可靠的测量结果；
◆NLS12传感器，具有简化的独立系统，可以在工业或交通不便的环境中进行测量；
◆与三角反射法不同,几乎无反射角要求,且无反射平面阻挡之影响,因此可用于小孔深度测量；
◆可以计算面积，厚度或体积；
◆可进行平整度的测量，高度或位置的测量；