二维激光传感器测量方案:
采用ZLDS200二维激光传感器头对射的方法进行测厚,此种测厚方法采样区域是一段面区域,在扫描测厚过程中还可以还原被测体的表面轮廓细节。二维测厚方案是采用激光二维传感器头对射的方法进行测厚.
示意图
客户要求测量板材面的厚度,给客户推荐由ZLDS200二维激光传感器作为探头的测厚系统,对板材面厚度的测量,同时还能扫描被测物表面的轮廓细节。
二维激光传感器客户要求:
板材厚度是5mm、8mm、10mm三种规格,要求测量精度是10um,板材表面有划痕。
扫描的面积大于100mm。
二维激光传感器二维测厚系统技术规格:
型号
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二维测厚系统
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Z轴量程mm
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3~300
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X轴量程mm
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6~240
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Z轴线性度%
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0.1
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X轴线性度%
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0.2
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最高测量频率Hz
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6510
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测量距离mm
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12~500
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ZLDS200二维激光传感器工作原理:
传感器的工作是基于光学三角测量原理。半导体激光发生器①发出的光,经透镜②形成X平面光幕,并在物体⑦上形成一条轮廓线③,镜片④收集被物体反射回来的光并将其投影到一个二维CMOS阵列⑤,这样形成的目标物体剖面图形被信号处理器⑥分析处理,轮廓线的长度用X轴计量,轮廓线的高低用Z轴计量。
二维激光传感器主要特点:
Z轴量程最小3mm,最大300mm;
Z轴最高3um精度;
X轴量程最小5mm,最大240mm;
最快每秒扫描6510个轮廓数据;
无需控制器,直接网口输出(也可选模拟输出);
有同步输入端,可使多个传感器同步工作;
传感器提供了DLL库,便于开发人员开发应用程序;
保护等级IP67;