本文介绍的ZLDS10X系列测厚仪主要讲述的是在电气电子行业的应用，更具体一点来说，是在电极板测厚方面的应用。

客户要求：测量圆柱厚度

测量方案：利用两个激光位移传感器探头对射，同时还有两个辅助量块，通过激光扫描可知X厚度，同时辅助量块厚度Y也知道，通过算法可知圆柱的厚度。

由于成本问题给客户

给客户推荐ZLDS10X系列激光位移传感器中的ZLDS102激光位移传感器探头

按照客户的要求给客户推荐以下型号：ZLDS102-250-65-2K-RS232-I-IN-AL-CC-3

量程是250mm,起始距离：65mm,采样频率：2K，数字输出为RS232，模拟输出为电流，线长是3m.

ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。

测厚仪提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。

测厚仪提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。

测厚仪应用领域：广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。

测厚仪工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。