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测量技术新突破,高精度大尺寸测量不再是梦

发布时间:2015-10-21 09:42 来源:产品资讯 类型: 人浏览
关键字:

机器视觉 测量 尺寸

导读:

对机器视觉几何尺寸测量来说,其测量尺度正在向两个极端发展:小尺寸测量和大尺寸测量。小尺寸方向正在进行微米测量和纳米测量的研究与应用。

机器视觉几何尺寸测量来说,其测量尺度正在向两个极端发展:小尺寸测量和大尺寸测量。小尺寸方向正在进行微米测量和纳米测量的研究与应用。大尺寸测量主要指几十厘米到米范围内物体的空间坐标(位置)、尺寸、形状、运动轨迹等的测量,而且大尺寸测量越来越趋向于高精度测量。大尺寸测量经常使用的仪器有:

        
三坐标                 经纬仪                   激光扫描仪

上面的测量仪器虽然都可以解决大尺寸方面的尺寸测量,但是在仪器体积、测量稳定性、精度方面远远无法满足高精度大尺寸测量要求。那我们有没有什么技术可以让测量精度达到小尺寸测量,但是同时能够对大尺寸物件进行尺寸测量呢?答案是肯定的,欣维视觉新开发的图像拼接技术成功的解决了上述难题,并且成功应用在大尺寸手机外壳尺寸测量上,具体如下:        

视觉系统先分别对手机壳进行6次取图,然后通过欣维视觉开发的图像拼接技术,把6附图片拼接成一张整图,在整图里面对相关尺寸、位置等进行测量。

此技术可以广泛引用在电子产品外壳尺寸测量,例如电脑、平板电脑;同时也可应用在大型机械加工件尺寸测量方面,例如汽车零部件里面相关部件位置度测量等。