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集显微镜•SEM•粗糙度仪的功能于一身——形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列

发布时间:2012-03-28 10:19 来源:产品资讯 类型: 人浏览
关键字:

显微镜 SEM 粗糙度仪

导读:

基恩士将加强在中国市场「形状测量激光显微系统 VK-X100/X200 系列」的销售。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量。

    327日,域,感器、器、显微系统以及逻辑控制系的供应商,日本知名企基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将在中国市形状量激光微系统 VK-X100/X200 系列」的VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量

「形状量激光微系统 VK-X100/X200 系列」的特点如下;

高分辨率,大景深观察

(1)  高分辨率, 最大放大24000

(2)  完全聚焦的清晰

(3)  符合溯源性要求

仿佛彩色 SEM

(1) 16 bit 激光彩色

(2) 放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分析

(3) 可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

损轮廓和粗糙度

(1)  非接触式设计,可用于测量软质的工件

(2)  方便定位量区域

(3)  激光光束波长比表面粗糙度测量直径小

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