全球领先的测试、测量和监测仪器厂商– 泰克公司日前宣布，为下一代PCIe 规范 PCI Express 3.0 推出完善的测试解决方案，用一个工具涵盖协议层分析和物理层分析。泰克最新推出的TLA7SA16 和TLA7SA08 逻辑协议分析仪模块 、总线支持软件和探头相结合，使得PCIe 3.0 开发人员能够以独有的方式查看系统行为的时间相关特点，从协议层分析开始一直到物理层，调试难检问题的根本原因。
泰克PCIe 3.0 测试解决方案基于泰克上一代PCIe 协议和逻辑分析产品，这些产品已经被业内芯片厂商、系统设计人员和高性能嵌入式工程师广泛采用。它还扩大了泰克之前推出的PCIe 3.0 电接口测试和验证产品，包括适用于DPO/DSA/MSO70000 系列示波器 的串行数据链路分析(SDLA) 软件。
泰克逻辑协议分析仪为PCIe 设计、测试和调试同时提供了协议分析仪和逻辑分析仪所具备的最佳性能。协议分析仪功能包括灵活的集成数据视图，分析和显示与物理层事件相关的协议业务流量。逻辑分析仪功能包括多种探测选项、完善的触发及原始符号和通路数据时间相关波形和分解的列表数据图。新的PCIe 解决方案扩展了TLA7000 系列高性能逻辑分析仪产品组合 ，适用于TLA7000 主机，包括TLA7012 便携式主机和TLA7016 台式主机。
“随着PCI Express 总线速度和复杂程度不断提高，协议层和物理层测试工具必须保持同步发展，这一点非常重要。”英特尔公司主动营销市场部总监JimPappas 说，“由于逻辑协议分析仪的问世，泰克扩大了使用逻辑分析仪进行协议分析的方式，有助于及时向消费者提供PCIe 3.0 芯片和系统。”
综合查看协议层行为和物理层活动
通过使用实时、硬件加速、后处理统计方法，并在新的Summary Profile Window ( 概况摘要窗口) 中显示这些统计数据，逻辑协议分析仪允许用户迅速评估系统运行状况，识别假信号和相关码型( 误码、具体事务类型、命令集、等等) 。创新的单个Transaction Window ( 事务窗口) 在数据包级和事务级查看协议行为，中间穿插物理层活动；独特的Listing Window ( 列表窗口) 按通路显示符号级的数据包细节。此外，在Wave