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译文|泰克SuperSpeed测试解决方案帮助NEC电子获得世界首项USB 3.0认证
——泰克接收机测试解决方案帮助客户更快将符合USB 3.0标准的设备推向市场

发布时间:2010-05-05 来源:中国自动化网 类型:独家原创 人浏览
关键字:

NEC电子 泰克SuperSpeed

导  读:

  全球示波器市场的领导厂商— 泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB 解决方案 为NEC 电子符合USB 3.0 标准的主机提供信号质量监测,该主机是世界首款获得USB 设计者论坛USB 3.0 认证的产品。  作为设计和生产集成电路的全球领导企业,NEC 电子选择与泰克合作,验证其新的硅元件以满足新兴的SuperSpeed USB 标准(USB3.0) 要求。USB 技术已经迅速被公认为连接电脑及外设的行业标准,与其它先进的高速接口如PCI Express 2.0 和SATA Gen 3 等相比,USB 3.0 的性能可以支持高达5Gbps 的数据速率,如此高的性能为测试测量带来了更复杂的挑战。为解决这些挑战,必须使用高性能、高灵活度的测量设备,以及能够加快和简化设计、测量和分析过程的工具。借助泰克USB 3.0 测试解决方案,NEC 电子这类企业的工程师们可以对USB 设备进行检定、调试和一致性测试,自动实现余量和一致性测试。对关键的USB 3.0 接收机余量测试, 泰克AWG7122B 任意波形发生器 则可提供无可比拟的信号生成灵活度,可以帮助客户更快地把符合USB 3.0

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