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2010年泰克春季创新论坛献技鹏城

发布时间:2010-04-23 来源:中国自动化网 类型:研讨会议 人浏览
关键字:

泰克 测量测试

导  读:

  2010 年泰克春季创新论坛结束上海之行后,于2010年4月22日来到深圳马哥孛罗好日子酒店,于近两百名专业人士一起探讨各种新兴计算技术、显示技术和存储技术领域的设计创新,包括PCI Express 3.0 、USB3.0 、HDMI1.4 、SATA/SAS 6G 和DDR 3。

 

 

 

会议现场

 

 

了解产品

  泰克公司采样示波器权威 Pavel Zivny 现身会场向大家介绍光接口、TDR 和以太网测试解决方案,深入了解最强大、最完善的事物层、链路层和物理层测试系列——PCI Express解决方案。泰克战略市场经理 John Calvin 演示SATA/SAS 6G 技术的最新物理层测试方法。利用DSA70000B系列示波器的可靠性,在处理下一代SATA 6Gb/sec标准时,使用五次谐波进行精确检定。

 

  最后,泰克的应用工程师余洋带来DDR验证和调试的高级方法,因同步动态随机访问存储器(SDRAM)数据速率大约每三年就会翻一番,现在已经达到1.6GT/s。同时为降低功耗,电源电压已经明显下降。结果SDRAM信号正变得越来越快,越小。提高了对测试存储器系统运行可靠性的需要。

 

  本次论坛为工程师接触快速变化的技术、了解最新测试解决方案、迎接当前和未来的设计挑战提供了最佳的平台。

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