中国（深圳）2009年自动光学检测研讨会于2009年5月12-13日在深圳明华国际会议中心顺利召开，来自相关企业、高校、科研院所的精密测量行业的专家学者老师到会参加讨论。智泰集团作为本次大会的承办单位，董事长许智钦博士就三维扫描及光学影像测量技术做了报告，也重点介绍了智泰集团在该领域取得瞩目成就。此次研讨会是由中国工程院信息与电子工程学部、深圳中国工程院院士活动基地、深圳大学、精密测试技术及仪器国家重点实验室、中国科学院深圳先进技术研究院主办，北京信息科技大学、合肥工业大学、中国计量科学研究院、智泰科技股份有限公司、深圳大学光电子器件与系统教育部重点实验室、SPIE深圳大学学生分会协办，目的是为了使自主研发的精密测试技术能够最大限度地发挥作用，从而推动微电子和光电子行业的发展。
　　微电子产业已经成为国民经济发展的关键，而集成电路设计、制造和封装测试是微电子产业发展的三大产业支柱。微电子封装和测试与电子产品密不可分，已经成为制约电子产品乃至系统发展的核心技术，是电子行业先进制造技术之一。封装工艺技术的发展对测试技术不断提出新的要求，有效的测试技术是封装质量的保证。封装过程的测试包括芯片级检测和系统级检测，这些精密测试技术及装置需要随着微电子封装工艺的发展而发展。此次研讨会共同研讨了微电子和光电子领域的企业对自动光学检测的需求、目前使用的技术手段和局限性、在质量保证方面所面临的挑战以及高校及科研院所目前正在自主研发的相关技术。 

研讨会主要内容：
    1、微电子、半导体、平板显示、光电子、光通讯行业对自动光学检测的需求及目前面临的挑战。
    2、光学自动检测技术（AOI、AXI、红外/热像等）的发展与应用现状及其有待解决的关键技术（硬件，软件，系统集成，测量速度，测量精度，测量范围，分辨率等）。
    3、需要检测的参量（尺寸，缺陷，形貌，温度，内部性质等）及目前的解决方案、局限性。
    4、各种可能的解决方案：多光谱、超分辨、高速、高精度、图形/图象处理、智能化、传感-测量-控制光机电一体化系统、结构设计等（新方法、新装置、集成创新等）。
    5、工业界与学术界共同研讨对策以及建议国家和地方政府对AOI研发立项的可能性，企业设立研发基金的可能性，产学研联合公关的可能性。