此次活动能聚集行业领先公司一起分享降低成本战略。
2008年4月28日消息，NI宣布举行第五届年度自动化测试峰会——以关注行业发展趋势，克服挑战为主题，通过在线讨论形式举行。2008自动化测试峰会将于6月5日在网上直播，将在欧洲、美洲和亚洲举行，为参与者提供一个可以与专家对话（我种语言）的机会。在这五天免费的活动中，参与者可以查阅关键性报告，观看技术讨论，参与现场问答及互动活动。
Averna 研发副总裁Jean-Yves Allard说：“NI自动化测试峰会为全球观众带来实时信息的同时，还涉及了与电子测试相结合的行业。作为一个参展商，我们可以在同一时间与来自四个大陆的参与者互动。技术展示外加由参展商提供的技术报告可为所有参与者提供一个很有价值的论坛信息，他们甚至都不用离开自己的桌子就能获得这些信息。”
来自世界范围内的领先的测试测量公司如：Averna, Cal-Bay, Intel, Microsoft 和Tektronix，在活动期间将分享他们的技术知识和最优办法。NI业务技术伙伴Mike Santori，将出席核心讨论：“测试中的效率优化”，
讨论的主题包括：
• 降低软件开发成本
• 硬件设计的最新趋势
• 测试系统使用寿命的延长
• 测试工程小组讨论
• 参加者可在线报名或递交报名表
www.ni.com/testsummit