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碳化硅晶圆技术突破4寸晶圆

发布时间:2007-06-26 来源:中国自动化网 类型:自动化要闻 人浏览
关键字:

半导体

导  读:

      据称,该公司新开发出的碳化硅(SiC)晶圆能够承受比普通硅晶圆高10倍的电压,热导率也要高出3倍。

    碳化硅化和物是在2,400摄氏度甚至更高的温度下通过材料再结晶制备的。由于质量控制难度较高,当前还只能生产直径为2至3寸的SiC晶圆,主要用于科研。

    Nippon Steel表示其在温度控制等方面取得的技术突破使得生产4寸SiC晶圆成为可能,这一尺寸的晶圆已可用于实际的半导体生产线. 

本文地址:http://ca800.com/news/d_1nrusj6oanrq5.html

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