2005年5月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）于4月在上海国际会议中心成功主办第二届“设计、验证及测试论坛” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主题为“测试紧跟设计的步伐”。本届论坛总共吸引了逾500位工程师、技术人员和院校教师参与此次盛会，其中97.1%的来宾表示“此次活动对他们的工作有所帮助”，70%将会推荐他们的同事参加明年的“设计、验证及测试论坛”。在此次论坛期间，NI提出了若干驱动虚拟仪器技术发展的主导商业技术，并着重强调了PCI Express 和FPGA这两项。
2004年第一届DVTF由NI和泰克电子（Tektronix）强强联手，延承其成功之势，除了泰克电子以外，今年NI还邀请了英特尔（Intel）、科梁科技（AEETEK）、Quanser、CyboSoft（博软科技）、泛华测控和聚星仪器等行业内外相关领域的多家优秀企业共同参与。
此次论坛分为热点技术专题与实时应用专题同时进行。NI主持了“利用新兴的PAC技术解决工业控制面临的挑战”、“用LabVIEW开发实时系统应用”等5场专题研讨会，Intel 以及其他公司也提供了“Embedded Market Solutions - PCI Express Technology”、“采用高速数字示波器进行 PCI Express分析和一致性测试”等讲座。此外，每家参展厂商都有各自的展示区域，可以与参观者面对面地交流。
前来参加会议的来宾们也表示本次论坛“务实求新，提供了新思想、新方路、新手段、新工艺”，“与各大厂商直接接触，了解到测试及控制领域最新的技术及发展趋势”。
基于两届活动的成功经验，NI会在明年继续举办第三届“设计、验证及测试论坛”，并有信心将其打造成测试测量行业内首屈一指的多供应商技术论坛。