三星电子近日开发出了一款用于纳米级半导体产品的新型诊断软件。这款新型诊断软件名为ESCORT/SRSIM，它能够在纳米级半导体电路设计的早期阶段，就诊断出电路设计中的潜在错误。
该款新型软件能够在设计的初步阶段，通过模拟手段探测出任何可能的设计错误，从而避免错误被带到设计的原型阶段。
三星的ESCORT软件能够在产品开发周期的初始阶段，通过细致周全的模拟过程，极大程度地增加晶片的产量。另一款SRSIM软件则能估计出内存芯片电路中的晶体管在一系列指定延时曝光之后，其性能退化的时间。
这款新的诊断软件不仅能够应用在内存产品上面，还能够应用于显示驱动的IC芯片、CMOS图像传感器和SoC设计上面。