法国HORIBA Jobin Yvon公司近日宣布，该公司将向全球市场推出新的ICP ACTIVA分光仪,该分光仪可以同时在同一束WAV波中分析所有的组成成份及其背景（波长的解析图），具有灵活，快速和分辨率高的特点。向客户提供的分光仪性能表明，该分光仪在使用上具有很大的灵活性：可以选择160nm到800nm之间的所有基础波长，可以选择WAV模式，也可以选择先进的分析模式，并可以将分析速度和分析的分辨率进行个性化的设置。
ICP-OES ACTIVA使用一个配备有后部照明式的负荷偶合装置侦测器（CCD，2048 x 512）。后部照明技术与噪声电平非常低的放大器组合在一起，成为最适合于要求极为严格的分光仪器的应用设施。
该分光仪使用数个几nm宽的光谱窗口工作，这些窗口被称之为波长分析图（WAV）。无相差的全息JY光栅与宽2048个像素点的CCD探测器组合在一起使用，可以取得两个大小不同的WAV窗口，一个窗口为8个纳米，别一个窗口为16个纳米。两个背靠背安装的光栅可以对160到800 nm的光进行一次测量。
ACTIVA分光仪集成了一种新的无色差图像生成输入光学系统，可以在固体探测器上优化从输入口上所看到的等离子最佳分析区上的图像。这样收集到的图像将垂直地分布在512个像素点上，以充分利用探测器的探测能力，而不受读出噪声的影响。
ACTIVA分光仪具有设计独特的可拆卸式火炬，宽敞的样品进样室。可以完全拆卸式的预调校式的火炬，具有直径很大的注入管，其直径为三毫米，并配备有气体密封装置，用以改善溶解固体的稳定性性能，减少基质效应的干扰。
分光仪配备有很多必要的附件，比如雾化室、雾化器、样品导入系统，等等，采用这些附件可以对各种样品进行分析。采用新的USB接口的AS-500自动送样器，可以进行全自动的分析，而不需要人的监视。