日本三井公司下属的研发子部门Bussan纳米科技研究院日前联合安立公司(anritsu)推出了双方合作研制的一款用于对高速光器件和元件进行测试测量的新一代色散分析仪，并在OFC2005上展出了首个原型产品。
据了解，该原型是世界上第一个能对色度色散进行实时测量的平台。色度色散能使光纤传输中光脉冲产生扭曲，导致邻近光脉冲的串扰，增加比特误码率。当传输速度增加时，色度色散的影响就变得愈发明显，并与比特速率成平方关系。举例而言，当比特速率从10Gbps增加到40Gbps的时候，比特误码率将增加16倍。因此，解决色度色散问题就成为了高速光传输领域的必要研究课题，而研制出描绘这种色度色散的仪器则是解决这一问题的第一步。
为了描述光器件和元件的色度色散，Bussan和安立采用了干涉测量法测量群延迟，在传统的基于光谱干涉仪的设备中，色度色散的测量一般要花费10秒钟的时间，而在原型中则采用一种新颖的相位取消（phase cancellation）方法，该方法是基于专门为测量群延迟而研制的自跟踪干涉测量技术（STINGRAYTM），STINGRAYTM技术采用两个激光器，一个用于探测，一个用于相位跟踪，该原型可测量工作波长在1530-1560nm (C-band)的器件，测试激光器波长的扫描速度是一秒扫描30nm带宽。而跟踪激光器也同时发射探测光束，将相位波动减少到0.04，是传统设备的1/30，大大缩短了探测时间。