6月23日，继在上海、西安、成都、北京、天津等城市成功举办后，NI“PXI测试应用”巡回研讨会南京站在南京华美达怡华酒店举行。来自南京业界的100余位代表参加了会议，本刊《工业控制计算机》也派记者出席，并对会议进行了现场采访。
会上，来自NI的应用工程师陈小姐向与会代表介绍基于PXI的灵活性模块化混合信号测试平台和客户成功案例、硬件驱动、灵活的高层应用程序编程接口（API）以及配置管理器等应用开发环境所必备的组件等大家关心的问题。并在最后与华东地区的区域工程师一起解答代表提问。
National Instruments（NI公司）的模块化仪器，包括紧凑型、高性能测量硬件，灵活的测量软件并完美集成定时和同步功能。模块化仪器硬件运用包括ADC，DAC，FPGA以及PC总线在内的最新商业技术，从而保证从7位直流至2.7Ghz测量的高分辨率和高数据吞吐量。模块化仪器软件，如NI LabVIEW， 包括了基于软件测量和多种复杂的分析功能。使用模块化仪器，测试与设计工程师们只需选择合适的硬件模块以及工业标准的软件环境就可以创建用户自定义的测试测量系统来符合各自不同的测量需求。
据了解，在南京站后，NI“PXI测试应用”巡回研讨会的最后一站将在6也29日在深圳举行。