|
泛华测控DAQ事业部作为NI（美国国家仪器有限公司）与北京中科泛华测控技术有限公司联合成立的部门，从2005年8月1日成立至今一直致力于为国内广大测试测量工程师提供高品质的NI数据采集产品以及各行业应用解决方案。
为进一步推动虚拟仪器技术在国内的发展和应用，使更多的工程师们能更快更好地开发符合特定要求的基于计算机的测控系统，泛华测控DAQ事业部将在中国地区举办2007年第一届数据采集应用方案有奖征文竞赛。
欢迎您参加本次竞赛，请仔细阅读以下参赛要求，并参照附件要求递交您的文章和参赛报名表，感谢您的支持！
一．参赛对象:
国内使用NI数据采集产品开发基于计算机的测试/测量和自动化控制系统的技术人员（包括大专院校教师和学生）。
★不接受员工参赛。
★硬件仅限于使用PCI，USB，PCMCIA总线数据采集卡的用户，软件开发平台不设限制。
二．参赛方法:
◆参赛日期：
即日起至2007年12月31日前提交您的参赛报名表以及参赛文章，我们有权拒绝在此日期以后提交的文章参赛。
◆参赛要求：
（1）您需要在2007年12月31日前递交您的参赛报名表、参赛文章以及同意发表确认书。
（2）请按照我们提供的文章格式编辑您的文章，字数不得少于1500字。
（3）参赛文章的格式、样本、参赛文章的特殊要求、同意发表确认书等信息请点击此处下载: 如果您无法下载，请与泛华测控DAQ事业部有奖征文竞赛组联系。
◆投稿方式：
* E-mail至：daqpansino.com.cn标题注明“泛华测控DAQ事业部征文竞赛—作者姓名”
* 传真至：（021）51702175 泛华测控DAQ事业部 有奖征文竞赛组
* 邮寄至：北京中科泛华测控技术有限公司DAQ事业部 有奖征文竞赛组 收
地址：上海徐汇区斜土路1233号之俊大厦1406室 邮编：200032
电话：（021）51028208
* 注：邮寄的文章必须用激光打印一式二份（字体大小为小五号、宋简体、标准4A复印纸，图片须高度清晰）；同时提供Windows 95/98/2000/XP平台下的3.5寸磁盘或CD-ROM，请妥善包装好您的盘片，以防邮寄过程中被损坏；
* 无论以何种方式递交的文章均需附上作者亲笔签署的“同意发表确认书”，并将文中涉及的图片以及高分辨率格式打包随正文一同发送。
三．参赛文章的评定规则:
◆文章所描述的是基于NI数据采集产品在测试测量和自动化应用方案的成功范例吗？
◆您的应用方案所解决的技术难度如何？
◆您的应用在减少开发时间和降低成本方面的优势，方案的创新程度如何？
◆文章中列明了您使用的NI数据采集产品，并且比较以前使用的数据采集产品，清楚地阐明了NI数据采集产品在现今系统中的优势。
四．竞赛奖励办法:
一等奖1名：RMB 5000；
二等奖2名：RMB 2000；
三等奖3名：RMB 1000；
最佳OEM奖1名：获价值RMB 5000 NI数据采集产品（限PCI,USB,PCMCIA总线）；
鼓励奖10名：艾利和MP3一个；
★以上获奖者征文免费刊登在行业网站和泛华测控DAQ事业部各类宣传资料上
参与奖：所有参赛者将获得泛华测控DAQ事业部赠送的精美礼品一份，优秀征文将免费刊登在行业网站和泛华测控DAQ事业部各类宣传资料上；
另注：
★泛华测控DAQ事业部有权处理所有递交的文章，并保留本次活动的解释权。
如果您对本次征文活动有任何问题，请联系北京中科泛华测控技术有限公司DAQ事业部 有奖征文竞赛组。
我们热诚欢迎您参加本次竞赛，与我们分享您使用NI数据采集产品心得和开发经验。请仔细阅读以上说明，具体参赛方法及其他细节请登陆http://www.pansino.com.cn/daq，或致电泛华测控DAQ事业部（021-51028208）有奖征文竞赛组咨询。
|