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北京兰德梅克科技开发有限公司
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数显薄膜测厚仪
数显薄膜测厚仪
软件分类:说明书
提供者:dro000021051
文件类型:未定义
文件大小:1M
发布时间:2009-11-09 10:01
点击次数:102次
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BMH-J3型数显薄膜测厚仪(千分尺) 一、 薄膜测厚仪主要技术指标: 测量厚度范围:(0-25)mm 测厚仪分辨率:0.001mm 电源:氧化银电池SR44 工作温度:0℃~+40℃ 储运温度:-20~+70℃ 相对湿度:≤80%
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