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牛津CMI900仪器介绍
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用
于材料的涂/镀层 厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提
供准确、快速的分析.基于WindowsXP
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的全面
自动化控制，
PCB 五金 LED 连接器 表面处理等行业
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行
业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液
体,极薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成
份百分含量可同时测定最多5层、15 种元素。
B ：精确度领先于世界，精确到0。025um (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分
析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相
对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数
据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米
牛津仪器CMI900电镀膜厚测量仪