X射线镀层膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统,是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。X射线镀层膜厚测试仪除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单，只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何，有效率地控制电镀生产，测贵金属成分可达到重复性约0.1%。是一款价优，并功能强大的仪器。
X射线镀层膜厚测试仪应用程式的例子:
★主要应用程式是在小五金的测量,例如:小螺丝、手表、眼镜、端子等等.
★大面积的样品,例如:线路板
★测量药水的含量是十分方便的,只需要将药水放进另外选购的测量杯,便可以进行测量,这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何,有效率的控制电镀生产.
X射线镀层膜厚测试仪的应用领域：
1、分析电子部品电镀层的厚度
2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析。
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