非接触单点式位移传感器
光谱共焦技术介绍
STIL的光学传感器在三维非接触式测量中有着最前端的技术。
我们的传感器基于穿新的光学原理，几乎能够测量任何类型的材料，
具有特殊的精确度。
STIL传感器可应用在几乎所有的工业领域。计量或研究实验室内，
将它作为高精密仪器，或者用作生产线的质量控制工具。
工业环境使用时，由于STIL的简单的接口，能够与测量和检测设
备集成。
轮廓&微观形貌
STIL的3D扫描的接口，能够满足所有复杂对象的2D和3D测量。精度可达亚微米级。
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粗糙度测量
STIL传感器可测量最小几个纳米的粗糙度。
获取粗糙度文件速度比普通的探针式快很
多，而且不会对表面造成划痕的风险。
厚度测量
非常先进的光谱共焦成像原理，通过使用一个单一的传感器就能测量透明材料的厚度，而且具有极高的精度。可以从样品的一面直接测量。
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水平面控制
由于其非接触技术，我们的传感器可以检测和测量液体的水平面。
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振动
由于非常高的测量频率和纳米分辨率，我么的传感器能够测量振动对象。他们的非接触式设计避免了在测试时的干扰，并能测量和分析难以访问的区域。
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生产线检测
STIL SA的光学传感器能够用应用于生产线系统控制，是由于其非常高的测量速率和先进的接口与制造能力。
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非接触单点式位移传感器
光谱共焦的优势：
-可以测量几乎所有类型的材料（金属、玻璃、陶瓷、半导体、纸张）；
-可以测量抛光和粗糙表面；
-对周围环境的光照不敏感；
-适合恶劣环境（高温/高压、照射）；
-大量可供选择的量程范围（100微米至42微米范围内）；
-可提供光笔具体要求（内径笔/径向笔/大的工作距离/下坡/小光斑尺寸/....)。
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产品
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特点
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STIL Initial
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-捆绑产品包括你学要的所有东西
-近期设计，许多先进功能
-非常适合初次使用的用户和研究实验室
-性价比高
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CCS controller
+optical pen(s)
+fiber optics cable(s)
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-可配置的传感器
-大量可供选择的互换的光笔
-OEM用户和工业应用的理想选择
-应用广泛
-2个和4个可选通道模式
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CHR controller
+optical pen(s)
+fiber optics cable(s)
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-可配置的传感器
-大量可供选择的光学笔
-2个和4个同步通道模式
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