牛津生产镀层测厚仪X-Strata920可检测多层镀层元素的厚度，同时也可以分析镀层金属元素的成分

镀层测厚仪X-Strata920

镀层测厚仪X-Strata920应用行业：

PCB、FPC、LED、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、螺栓和弹簧等五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、功能性电镀件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。

镀层测厚仪X-Strata920工作原理：

对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线，通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

镀层测厚仪X-Strata920特点：

可测元素：钛Ti22－－-铀U92间各元素；

可测镀层：5层镀层(含基材层)，15种元素共存校正；

测量时间约10秒，快速得出测量结果；

测量结果精确到微英寸；

测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；

提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价)；

提供NIST认证的标准片；

享有全球的服务与支持。

测厚范围：

取决于具体的应用。

测量精度：

膜厚≤20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin

膜厚＞20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±5%，第二层±10%，第二层±15%