iTEST集成以下系统：
数字测试系统
共享资源测试系统，每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集成电路的逻辑功能。
线性器件测试系统
用来测试线性集成电路的测试系统。
模拟测试系统
用来测试线性集成电路的测试系统。
存储器测试系统
DRAM 测试系统，闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片。
板级测试系统
板级测试是用来测试整块印制电路板PCBA，而不是针对单个集成电路。
RF测试系统
用来测试射频集成电路的测试。
SOC测试系统
通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统，用来测试超大规模集成电路(VLSI)芯片；并且这种超大规模集成电路(VLSI)芯片的集成度比传统的混合信号芯片高得多。
综合测试项目：
1、直流输出电压
2、直流输出电流
3、峰对峰值杂讯
4、有效值杂讯
5、暂态电压
6、电压稳定度
7、电流稳定度
8、开机时序
9、上升时间
10、下降时间
11、关机时间
12、额外量测
13、浪涌电流测试
14、过冲电压
15、电源备妥信号（PG）
16、电源失效信号（PF）
17、开启电源供应器信号
18、输出上升波形
19、输出下降波形
20、效率
21、输入有效值电流 |
22、输入峰值电流
23、输入功率
24、输入功率因数
25、输入电压缓升/降测试
26、输入频率缓升/降测试
27、输出电压顺序
28、短路测试
29、短路电流测试
30、过电压保护
31、过载保护
32、过功率保护
33、扩充量测
34、测试中调整
35、输入断电测试
36、输入电源失真模拟
37、GPIB，RS232读/写
38、TTL信号控制
39、继电器控制
40、条码读取
41、动态测试 |
产品实图：
测试界面