功能： 1。动态阻抗监控能够实时监控线束端子振动试验期间的接触电阻变化并能完整记录\打印,至少能够记录4组连接数据。
2。监控电阻采样率可达100M/S，采样时间0.01us。
3。能够存储试验过程中所有的电阻采样数据，并且能够在试验结束后重新将所有采集数据形成电阻随时间变换的波形曲线，取样时间可设定，记录时间无限制，由PC的硬盘容量决定。在最高实时采样速度和采样点下，至少保证3小时的测试数据和记录。
4 。设备具有判定，报警及统计功能，可判定线束振动实验过程中电阻超过一定欧姆值且超过一定时间的情况，不会出现误判，统计功能只对采样时间内的数据进行统计，采样区外的数据不纳入统计中。
|
主要配置 |
数量 |
描述 |
|
PXIe – 5122 高速数字化仪 |
1 |
|
|
PXIe – 8106 高性能双核嵌入式控制器 |
1 |
|
|
PXIe – 1062Q 8槽静音机箱 |
1 |
|
|
高精度电流源 |
1 |
|
性能介绍：
1. 基本配置为双通道，每通道采样率最大为100MS/s，精度14-bit，每通道缓存256MB；
2. 利用最新的PXI Express总线传输与Win32 File I/O文件读写技术，可实现最大400MB/s的无间断实时数据存盘，存储深度基本配置为60GB SATA硬盘
3. 利用多核处理技术与基于LabVIEW平台开发的应用程序，可高效地实现配置数据实时流盘、实时分析或者离线分析
扩展性能：
1. 模拟输入通道数最大可扩充到6个（PXI Express接口）
2. 可通过ExpressCard接口扩充大容量SATA硬盘
详细资料链接：
1. Optimizing Automated Test Applications for Multicore Processors with NI LabVIEW
http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/5899
2. High-Speed Data Streaming: Programming and Benchmarks
http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/5897