美国MATRIX手提式 X-射线镀层测厚仪

全球第一款手提式 X-射线镀层测厚仪

这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的无损检测上有着明显的优势。

唯一具备“批量测试”模式，即一次可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度

可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。

配置说明：

微型银或钨X-射线管，5个准直器。

检测器：半导体高分辩率的检测器。

电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。

操作温度：-10 ~50摄氏度

FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析

多年来，我们一直致力于为PCB 厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图！欲了解产品详情，请与我们联系或访问http://www.eastco-hk.com

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