高电压试验技术
GB311.1 绝缘配合 第1部分:定义、原则和规则;
GB/T4585 交流系统用高压绝缘子的人工污秽试验;
GB/T7354 局部放电测量;
GB/T11022 高压开关设备和控制设备标准的共同技术要求;
GB/T16896.1 高压冲击测量仪器和软件 第1部分:对仪器的要求;
GB/T16896.2 高压冲击测量仪器和软件 第2部分:软件的要求;
GB/T16927.2 高电压试验技术 第2部分:测量系统;
GB/T16927.3 高电压试验技术 第3部分:现场试验的定义及要求;
GB/T22707 直流系统用高压绝缘子的人工污秽试验。
3.1 放电特性
3.1.1 破坏性放电 disruptive discharge
与电气作用下绝缘发生故障有关的现象。试验时绝缘完全被放电桥接,并使电极间的电压实际降到零。适用于固体、液体和气体介质以及它们的复合介质中的破坏性放电。有时也称“电气击穿”。
注:也可能出现非自持破坏性放电,此时试品被火花放电或电弧短暂桥接。这种情况下,试品上的电压会短暂地降到零或非常低的值。根据试验回路和试品的特性,可能出现绝缘强度的恢复,甚至允许试验电压达到更高的数值。除非有关技术委员会另有规定,否则这种情况应视作破坏性放电。
3.1.2 火花放电 sparkover
气体或液体媒介中发生的破坏性放电。
3.1.3 闪络 flashover
气体或液体媒介中沿介质表面发生的破坏性放电。
3.1.4 击穿 puncture
固体介质中发生的破坏性放电。
注:固体介质中发生破坏性放电会导致绝缘强度的永义丧失;而在液体或气体介质中绝缘只是暂时丧失强度。
3.1.5 试品的破坏性放电电压值 disruptive discharge voltage value of a test object
本部分相关条款规定的各种试验中引起破坏性放电的试验电压值。
3.1.6 非破坏性放电 non-disruptive tlischarge
发生在中间电极之间或导体之间的放电,此时试验电压并不跌落至零。除非有关技术委员会另有规定,否则,这种现象不能视作破坏性放电。
有些非破坏性放电称为“局部放电”,参见GB/T7354。
3.2 试验电压特性
3.2.1 试验电压的预期特性 prospective characteristics of a test voltage
如果没有破坏性放电发生,应该能获得的特性。一旦使用预期特性,必须加以注明。
3.2.2 试验电压的实际特性 actual characteristics of a test voltage
试验电压的实际特性是指试验期间试品端子之间出现的特性。
3.2.3 试验电压 value of the test voltage
见本部分的相关条款。
3.2.4 试品的耐受电压 withstand voltage of a test object
耐受试验中,表征试品绝缘性能的规定的预期电压值。
除非另有规定,耐受电压是指标准大气条件下的值(见4.3.1)。仅适用于外绝缘。
3.2.5 试品的确保破坏性放电电压 assured disruptive discharge voltage of a test object
破坏性放电试验中,表征绝缘性能的规定的预期电压值。
3.3 容差和不确定度
3.3.1 容差 tolerance
测量值与规定值之间的允许差值。
注1:容差不同于测量不确定度。
注2:试品试验通过(或失败)的结论是根据测量值确定的,并不考虑测量不确定度的影响。
3.3.2 测量不确定度 uncertainty of a measurement
与测量结果有关的一个参数,它表征受到测量一定程度影响的数值的分散性。
在本部分中,所有不确定度规定为95%置信水平下的值。
注1:不确定度是正的,给出时不带符号。
注2:不应与试验规定值或参数的容差相混淆。
3.4 破坏性放电电压值的统计特性
破坏性放电电压是随机变化的,通常须进行大量的试验才能获得统计意义的电压值。本标准中给出的试验程序,一般是基于统计考虑而确定的。试验结果的统计评价信息见附录A。
3.4.1 试品的破坏性放电概率 disruptive discharge probability of a test object
P
施加一次给定波形的具有确定的预期电压数值的电压后试品上引起破坏性放电的概率。参数P可用百分数或适当的小数来表示。
3.4.2 试品的耐受概率 withstand probability of a test object
q
施加一次给定波形的具有确定的预期电压数值的电压后试品上不引起破坏放电的概率。如果破坏性放电概率为p,则耐受概率q为(1-p)。
3.4.3 试品的p%破坏性放电电压 p%disruptive discharge voltage of atest object
Up
在试品上产生破坏性放电概率为p%的预期电压值。