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如何解决静电放电对电子设备产生影响问题

发布时间:2012-12-05 11:30   类型:原创文章   人浏览
静电场的强度取决于充电物体上的电荷数量,和与其它电荷量不同的物体之间的距离。人体上的电压通常会达到8~10kV。有时电压会更高,达到12~15kV。许多文献上称,人体的电压可以达到30kV。但这是假设身体的最小辉光放电放电半径为1厘米。实际上,人体上许多部位的半径小于1厘米,因此在通常条件下是不会出现这种电压的。人体上的最高电压应该是20kV。(衣服、头发或鞋上会有更多的电荷,因为这些物质导电性较差,因此受电晕的影响较小) 在本例中,当人的手指接近键盘时,手指上的静电场会引起介电物质的极化和键盘内电荷的重新分布。导体内的电荷重新分布会加剧介电物质的机化,甚至强度会达到将介质击穿的程度。这种现象在集成电路中尤为普遍,因为集成电路中的介质层很薄。 虽然静电场本身会造成问题,但放电的后果更严重,因为这有直接注入电荷的效应。这时,原来存在于人体与设备之间的能量会转移到IC这类内部器件之间。在这些强电场的作用下,芯片会被击穿而损坏。击穿发生后,伴随着电荷的重新分布,会有较大的电流,这个电流会烧毁键盘内的电子器件。 解决电荷注入问题的一个方

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