电力线路中绝缘子表面积聚的污秽物可分为可溶解污物和不可溶解污物即惰性污物。可溶解污物用等值附盐密度( ESDD) 表征, 已广泛应用于污秽试验、污秽闪络机理分析和电力系统污秽等级划分等研究中; 不可溶解污物用灰密(NSDD) 表征。
在盐密度ρESDD 一定的情况下, 染污绝缘子串污闪电压Uf随着灰密度ρNSDD 的增加而不断减小的原因是: 污层中的不溶污物虽本身不导电, 但它保持的水份却可以溶解电解质, 增大导电率。同时随着附着在绝缘子表面的不溶物的增加, 绝缘子表面所吸收的水分就越多, 形成了更厚的水膜, 降低染污绝缘子表面电阻, 导致泄漏电流增大。
通过大量数据分析结果表明, 染污绝缘子串污闪电压Uf 与盐密度ρESDD、灰密度ρNSDD 之间呈三维曲面关系, 随着ρESDD和ρNSDD 的增加, Uf 逐渐下降; 在ρESDD、ρNSDD较小时Uf 下降较快, 随着ρESDD 和ρNSDD 的增加, Uf 下降趋势变缓, 这与分别考虑ρESDD 及ρNSDD 作用时, 对Uf 的影响是类似的。
总体来看灰密度和盐密度均对绝缘子污闪电压有影响。以XP - 160 瓷绝缘子为例，灰密影响特征指数为0. 14 , 盐密影响特征指数为0. 24 , 盐密影响是灰密影响的1. 71 倍, 即盐密影响大于灰密影响。
ρNSDD 与污闪电压Uf 的关系在等值盐密度
ρESDD 分别为0. 026 mg/ cm2、0. 068 mg/ cm2及0. 14 mg/ cm2 时试验研究了XP - 160 悬式瓷绝缘子污闪电压
Uf 随灰密度
ρNSDD 变化的关系, 试验结果如表3 , 试验得到的
Uf 标准偏差在7 %之内。对表3 的试验结果进行曲线拟合, 可得到同一
ρESDD下
Uf 与
ρNSDD 的关系, 如图3 所示。
由表3 可知, 不同ρESDD 下7 片串人工污秽绝缘子串的Uf 均随着ρNSDD 增加而下降; 并且ρNSDD 较小时, 随ρNSDD 的增加Uf 下降较快, 随着ρNSDD 的继续增加, Uf 下降趋势变缓, 这种趋势与绝缘子串闪络电压和ρESDD 之间的关系一致。